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關于眾志

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解決方案

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新聞資訊

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芯片測(ce)試HAST試驗箱

發布時間:2023-07-19發布者:小編(bian)

  芯片(pian)HAST(Highly Accelerated Stress Test)試(shi)(shi)驗箱用于測試(shi)(shi)芯片(pian)長(chang)期(qi)存(cun)儲條(tiao)件下,高溫和(he)時間對芯片(pian)器件的(de)影響。僅針對塑封(feng),分為帶(dai)偏(pian)置(hast)和(he)不帶(dai)偏(pian)置uhast的(de)測試(shi)(shi),UHAST需要提前(qian)PC處(chu)理。

  

 

  三、滿足標準
  ●JESD22-A102E-2015 加速水汽抵抗性--無偏置高壓蒸煮(PCT)
  ●JESD22-A110E.01-2021 高加速溫濕度應力試驗(HAST)(有偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
  ●JESD22-A118B.01-2021 加速水汽抵抗性--無偏壓 HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
  ●IEC60068-2-66:1994(GB/T 2423.40-2013)環境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
  ●IEC60749-4:2017(GB/T 4937.4-2012)半導體器件 機械(xie)和(he)氣候試驗(yan)(yan)方法 第(di)4 部(bu)分:強加速穩(wen)態濕熱試驗(yan)(yan)(HAST)

 

  四、供電條件和電源
  ●AC220V單相R 、N +保護接地;電壓允許波動范圍10%;
  ●頻率允許波動范圍50±0.5HZ;TN-S方式供電或TT方式供電;
  ●保護地線接地電阻小于4Ω;
  ●要求用戶(hu)在安裝(zhuang)現(xian)場為設(she)備配(pei)置相應容量的空氣或動力開關(guan),并且此開關(guan)必須獨立控制本(ben),設(she)備使用箱內放置通電(dian)試料(liao)時,試料(liao)電(dian)源(yuan)請使用外加電(dian)源(yuan),不(bu)得直接(jie)使用本(ben)機(ji)電(dian)源(yuan);

 

  五、溫濕度范圍
  ●溫度范圍:105℃~140℃ 
  ●濕度范圍:65~100%R.H飽和(he)蒸(zheng)氣濕度

 

  六、壓力范圍
  ●顯示相對大氣壓0~0.2 Mpa(0~2kgf/cm2)

 

 

  七、控制精度
  ●溫度分辨率:0.01℃ 時間:1min                 
  ●溫度偏差:±1.0℃                                         
  ●溫度波動度:±0.5℃   
  ●壓力波動均勻度:±0.1Kg
  ●濕度分布均度:±3%RH
 

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