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解決方案
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一般電子類產品涉(she)及的環(huan)境測試包(bao)括氣(qi)候(hou)類測試和機械(xie)振動類測試。
氣候類(lei)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)包括:低(di)溫(wen)存儲測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi),高(gao)溫(wen)存儲測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi),低(di)溫(wen)工作測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi),高(gao)溫(wen)工作測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi),熱測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi),溫(wen)度循環測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi),交變濕熱測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi),低(di)溫(wen)極限(xian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi),高(gao)溫(wen)極限(xian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)和噪聲測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)。
機(ji)械振動(dong)類測試(shi)(shi)(shi)包(bao)括(kuo):包(bao)裝隨機(ji)震(zhen)(zhen)動(dong)試(shi)(shi)(shi)驗(yan),包(bao)裝碰(peng)撞試(shi)(shi)(shi)驗(yan),包(bao)裝跌落包(bao)裝沖(chong)擊,模(mo)擬包(bao)裝運輸試(shi)(shi)(shi)驗(yan),實(shi)地跑車(che),隨機(ji)振動(dong),沖(chong)擊試(shi)(shi)(shi)驗(yan),工作正弦(xian)震(zhen)(zhen)動(dong),工作沖(chong)擊試(shi)(shi)(shi)驗(yan),地震(zhen)(zhen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)。
一、環境試(shi)驗的目的包括以下幾點:
1)在(zai)產品研發階段(duan),評估產品的可靠性是否能達到(dao)預定的指標(biao)。
2)在產(chan)品生(sheng)產(chan)階(jie)段,監控(kong)生(sheng)產(chan)過程(cheng)是(shi)否出(chu)現(xian)品控(kong)波動。
3)在產品(pin)發布前,對產品(pin)的環境可(ke)靠性(xing)進行鑒定或驗收。
4)可靠性(xing)(xing)提升:暴露和分析產品在不同(tong)環境和應力條件下的(de)失效規(gui)律及(ji)有關的(de)失效模式和失效機理,有針對性(xing)(xing)的(de)進行改進。
二、環境試(shi)驗(yan)有(you)以(yi)下幾點注意事項:
1)整個系統根據實(shi)際(ji)情(qing)況進行接(jie)地,否則(ze)不能模(mo)擬實(shi)際(ji)使用情(qing)況。
2)保(bao)持測試儀(yi)器(qi)的良(liang)好接地,以(yi)保(bao)證測試人員安全。
3)對于耐受性測試(shi)(shi),試(shi)(shi)驗(yan)工程師必須在(zai)試(shi)(shi)驗(yan)現場看守,以防止試(shi)(shi)驗(yan)故障(zhang)導致的意外(wai)事(shi)故。并且必須在(zai)試(shi)(shi)驗(yan)區加(jia)危(wei)險警告標識。
本文以智能手(shou)(shou)機為(wei)例(li),列(lie)舉常(chang)規的可靠性測試項目,讓我們首先來了解智能手(shou)(shou)機常(chang)規功能檢查項目有(you)那(nei)些?
室溫環境下測試,確認測試前(qian)手機外觀(guan)、結構(gou)及(ji)軟(ruan)硬件(jian)功能是否正常,具體項目及(ji)判(pan)定標準如下:
序號 |
測試項目 |
判定標準 |
1 |
開機(只針對貯存實驗) |
開機正常,有開機鈴音 |
2 |
顯示 |
顯示正常,極端條件下能通過調整對比度恢復正常顯示 |
3 |
按鍵功能 |
按鍵功能正常,手感結構良好 |
4 |
撥號功能 |
撥號功能正常 |
5 |
通話質量 |
通話質量良好 |
6 |
存儲功能(電話本、時鐘)(貯存實驗不考慮) |
電話本仍有存儲,時鐘顯示正常 |
7 |
短消息功能 |
要求功能正常,能正常收、發短消息 |
8 |
手寫功能 |
要求能正常手寫輸入字符、筆劃流暢無毛刺 |
9 |
振動、振鈴功能 |
振動、振鈴功能正常 |
10 |
充電功能 |
充電功能正常 |
11 |
背光燈 |
背光燈可正常開啟或關閉 |
12 |
USB功能 |
要求功能正常,能正常傳輸數據 |
13 |
耳機功能 |
(1)耳機能正常打入/打出電話,并通話質量正常 (2)耳機能正常聽音樂,并播放音樂正常 |
14 |
MP3播放 |
播放功能正常,音質良好 |
15 |
視頻播放 |
播放功能正常,音質和畫面良好 |
16 |
拍照/攝像功能 |
要求功能正常,能正常拍照和攝像 |
17 |
調頻廣播 |
要求功能正常,能正常接收和搜索頻道并播放 |
18 |
開啟WIFI |
WIFI功能正常。 |
19 |
G-sensor |
旋轉手機,分別將手機水平豎直放置,手機顯示屏應能自動旋轉。 |
20 |
P-sensor |
手機撥打112或10086,將手機靠近耳朵,看手機能否按照預期黑屏。 |
21 |
磁傳感器 |
觀察指南針功能是否正常。 |
22 |
GPS |
手機進入GPS模式下,能準確定位! |
23 |
GPRS上網 |
打開數據連接,應有H或E圖標顯示;能正常上網。 |
24 |
3G網絡上網 |
打開數據連接,應有H或3G圖標顯示;上網時不能出現G,E和H,3G圖標頻繁切換現象。 |
25 |
觸摸屏 |
不漂移;手寫流利、易識別、不飛線;反應速度正常; |
26 |
藍牙 |
打開藍牙顯示正常,且能與其他設備配對。10米內可以順暢傳輸文件 |
27 |
距離感應測試 |
通話過程中,將干燥的手/人臉/含水的手分別距測試樣機TP面1cm、3cm、5cm,觀察LCD背光的亮滅反應。 |
28 |
關機 |
關機正常,有關機鈴音。 |
三、智能手機環境(jing)適(shi)應性測試(shi)項目(mu):
1、低溫存儲(chu)試驗:
試(shi)驗標準(zhun): GB/T 2423.1-2008
測試環境:-40℃ 72 H
手機(ji)(ji)數量及狀態:2臺,低溫(wen)時關機(ji)(ji)
測試(shi)目(mu)的:低溫應用(yong)性功能測試(shi)
試驗(yan)(yan)方法:裝入(ru)電池將手機(ji)處于(yu)關機(ji)狀(zhuang)態,放(fang)入(ru)溫(wen)度(du)(du)實驗(yan)(yan)箱內的(de)架子上。按平均值不(bu)大于(yu)3℃/min的(de)變(bian)化(hua)速度(du)(du)逐步(bu)降溫(wen)到-40℃,溫(wen)度(du)(du)穩定(ding)后持續72個小時(量產樣機(ji)24小時取出)取出,并放(fang)置2小時,恢復至常溫(wen)。
2、高溫存儲實驗
試驗標(biao)準: GB/T 2423.2-2008
測試(shi)環境:+70℃ 72 H
手機數量及狀(zhuang)態:2臺,高溫時關(guan)機
測(ce)試目的:高溫應用性功能測(ce)試
試驗方法:不裝電池將手(shou)機放(fang)入溫度實驗箱內的架子上。按平均值不大于3℃/min的變化速度逐步升溫到+70℃,溫度穩定后持續(xu)72個小時之(zhi)后取(qu)出,并放(fang)置2小時,恢復至(zhi)常(chang)溫,然后進行結(jie)構,軟(ruan)硬件功能(neng)檢查。
3、高溫高濕存儲
試驗標(biao)準:GB/T 2423.3-2018
測(ce)試環境:70℃,93%~97%RH 72H
手機數量及狀(zhuang)態:2臺,關機
測試(shi)目(mu)的:測試(shi)樣機(ji)耐高溫高濕性能
試驗(yan)(yan)方(fang)法:裝入電池,將手(shou)機處于關機狀態,放入溫濕度實驗(yan)(yan)箱內(nei)的架子上,持續72個小時之后取出,常溫恢(hui)復2小時,然后進(jin)行(xing)外觀、結構和(he)軟硬件功能檢(jian)查。
4、低溫工作
試驗標準: GB/T 2423.1-2008
測試環境:-40℃ 24小時
手機數量及(ji)狀態(tai):2臺,先(xian)關機再開機
測試(shi)(shi)目的:低溫應用(yong)性(xing)性(xing)能測試(shi)(shi)
試(shi)驗方法:將(jiang)手機(ji)(ji)電池(chi)充滿電,插入SIM卡,手機(ji)(ji)處于關機(ji)(ji)狀態,放入溫度(du)實驗箱(xiang)內的架子上,按平均值(zhi)不大于3℃/min的變(bian)化速度(du)逐步降溫到-40℃,持續24小時(shi),溫度(du)穩定后(hou)手機(ji)(ji)開始開機(ji)(ji)工作。在此環境下進行與外部手機(ji)(ji)進行通話測試(shi),通話5分鐘,最后(hou)電性能(neng)參(can)數(shu)和功能(neng)檢查(包括(kuo)手機(ji)(ji)按鍵/側鍵手感(gan),電池(chi)蓋拉拔力,長時(shi)間攝像(xiang),觸(chu)摸功能(neng)是否正(zheng)常)。
5、高溫工作
試驗標準(zhun): GB/T 2423.2-2008
測試(shi)環境:55℃ 24小(xiao)時
手(shou)機數量及狀態:2臺(tai),先關機再開機
測(ce)試目的:高(gao)溫應用性(xing)性(xing)能測(ce)試
試(shi)驗(yan)方法(fa):將手機(ji)(ji)(ji)電池(chi)充(chong)滿電,插入SIM卡,手機(ji)(ji)(ji)處于關機(ji)(ji)(ji)狀態,放入溫(wen)度實(shi)驗(yan)箱內的架子(zi)上,按(an)平(ping)均(jun)值不大于3℃/min的變化(hua)速度逐步升溫(wen)到55℃,溫(wen)度穩定后手機(ji)(ji)(ji)開始開機(ji)(ji)(ji)工作。在此環境下持續24小時并進行(xing)與外部手機(ji)(ji)(ji)進行(xing)通話(hua)(hua)測(ce)試(shi),通話(hua)(hua)5分鐘,電性(xing)能(neng)參數和功能(neng)檢查(包(bao)括手機(ji)(ji)(ji)按(an)鍵(jian)(jian)/側鍵(jian)(jian)手感,電池(chi)蓋拉拔力,長時間(jian)攝(she)像,觸(chu)摸(mo)功能(neng)是否正常)。
6、恒(heng)定濕(shi)熱工作
試驗標(biao)準:GB/T 2423.3-2018
測試環境(jing):+55℃,93%~95%RH
手(shou)機(ji)(ji)數量及狀(zhuang)態:2臺,先關(guan)機(ji)(ji)后開機(ji)(ji)
測(ce)試目的(de):高溫高濕(shi)應用性性能測(ce)試
試驗方法(fa):將手機(ji)電池(chi)充(chong)滿(man)電,手機(ji)處于開(kai)機(ji)狀態,放入溫度(du)實驗箱內的架子上(shang),工作時間(jian)4小時。溫度(du)穩定后手機(ji)開(kai)始(shi)開(kai)機(ji)工作。在此(ci)環(huan)境下,每2小時進行(xing)手機(ji)外(wai)觀,結構,及軟硬件各功(gong)能檢查。
7、拆機檢查:
手機(ji)數量及(ji)狀態(tai):2臺,關機(ji)后拆機(ji)
試驗(yan)方法(fa):將整(zheng)機拆開檢查,檢查是否(fou)有元件脫落(luo)、組件松動(dong)、或其他結構破損(包括按鍵導光膜(mo)導管效果是否(fou)明顯(xian)),是否(fou)腐蝕,產品品質隱患等異常現象(xiang)。
8、高溫充電測試:
測試(shi)環境(jing):55±3℃
手機數量及狀態:2臺,關機
測試目的:驗證樣機在(zai)高溫(wen)條件下的充(chong)電性能
試驗方法:
1. 將被測(ce)(ce)樣機裝上配套的低電(dian)(dian)量電(dian)(dian)池(chi)(已經被放(fang)電(dian)(dian)到(dao)自動關機),與充電(dian)(dian)器一起放(fang)入環境溫度(du)為52℃的環境試驗箱(xiang)中存放(fang)1h,然后(hou)測(ce)(ce)試電(dian)(dian)池(chi)當前電(dian)(dian)壓;
2. 在(zai)高(gao)溫(wen)環境(jing)箱內將樣機(ji)插(cha)上充電(dian)(dian)(dian)器(qi),并(bing)加(jia)電(dian)(dian)(dian)對(dui)電(dian)(dian)(dian)池進(jin)行充電(dian)(dian)(dian),檢(jian)(jian)查手機(ji)是(shi)否能(neng)正常(chang)(chang)顯示充電(dian)(dian)(dian)狀態(若開始就(jiu)不能(neng)正常(chang)(chang)充電(dian)(dian)(dian),則取出樣機(ji)在(zai)常(chang)(chang)溫(wen)下(xia)進(jin)行充電(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)查,待在(zai)常(chang)(chang)溫(wen)下(xia)充電(dian)(dian)(dian)正常(chang)(chang)后(hou)再放入(ru)環境(jing)箱進(jin)行試驗);
3. 在高溫箱充電(dian)6h,每隔1h左右檢查手機充電(dian)狀態是否正常。(具體(ti)時間可根據電(dian)池(chi)容量大(da)小更改)
試驗條件:
在52℃環境(jing)下(xia): 4h內能(neng)正常充(chong)電(dian)(dian)(dian)(dian),且(qie)能(neng)顯(xian)示充(chong)電(dian)(dian)(dian)(dian)完(wan)成,且(qie)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓≥4.1V,則(ze)判定OK;(具體時(shi)(shi)間可根據電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)容量大小(xiao)更(geng)改),并記錄(lu)充(chong)電(dian)(dian)(dian)(dian)滿時(shi)(shi)間。
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